再论粉末法测低对称的晶胞参数

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再论粉末法测低对称的晶胞参数
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                        孙以谏  孙以谏

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1980—1981年,作者曾提出用修正指标化结合加权最小二乘拟合,利用X射线粉末图计算低对称晶胞参数的方法;在这篇文章中,作者又提出一个用叠代地修正测定值代替修正指标化的改进方法,来处理上述问题。该方法已用BASIC语言编写出程序,并在CROMEMCO—S—Ⅲ型微机上成功地运行。实践表明,改进的方法提高了测定精度,效果良好。

引用本文

孙以谏.1987.再论粉末法测低对称的晶胞参数[J].地质论评,33(2):175-180,[DOI].
.1987.[J]. Geological Review,33(2):175-180.

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